1、 純光學測量方式，精度高，測量穩(wěn)定、重復性好； 2、 工作臺精密研磨，多種配件測頭，可隨意更換； 3、 系統(tǒng)放大倍率高達1000X，光學系統(tǒng)清晰；
1、 純光學測量方式，精度高，測量穩(wěn)定、重復性好；
2、 工作臺精密研磨，多種配件測頭，可隨意更換；
3、 系統(tǒng)放大倍率高達1000X，光學系統(tǒng)清晰；
1、用于五等精度量塊示值誤差的比對測量檢測；
2、一級精度柱型規(guī)以及各種圓柱形、球形、線形等物體的直徑測量
3、板形物體的厚度的精密測量，亦可用來控制精密零件的加工。
4、適用于計量檢測中心，大專院校，質(zhì)檢機構，企業(yè)檢測實驗室等
立式光學計LG-1又名立式測長儀或立式光學比較儀，是一采用量塊或標準零件與試件相比較的方式來測量物體外形尺寸的儀器.主要用于五等精度量塊,一級精度柱型規(guī)以及各種圓柱形、球形、線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，亦可用來控制精密零件的加工。
主要技術參數(shù)： 1、被測件最大長度：180mm 2、直接測量范圍：±0.1mm 3、分劃板分度值：1um 4、總放大倍數(shù)：1000X 5、測量壓力：（2±0.2)N 6、示值變動性：0.1 μm 7、最大不準確度：±0.25 μm 8、讀數(shù)方式：分劃板讀數(shù) 9、最大測量誤差：±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計 10、儀器體積：350*165*420mm 11、儀器重量：約32kg
標準配置： 1、可調(diào)帶筋園臺 2、可調(diào)園平臺 3、帶筋固定方臺 4、平面測帽 Ф2 5、平面測帽 Ф 8 6、小球面測帽 7、刃形測帽
工作時間：周一至周日（24小時，歡迎咨詢）
熱線：17821353695
滬公網(wǎng)安備 31011202010708號